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      CN/EN

      SEMICON & OPTO半導體設備

      半導體設備

      晶圓/芯片測試

      ficonTEC T1200 晶圓測試設備

      1. 適應6至12英寸晶圓

      2. 可測試IL/PDL/RF/DC

      3. 晶圓級測試

      4. 光柵耦合/邊耦合測試

      5. 快速耦合 (<1s)

      6. 超高耦合重復性 (<0.1dB)

      7. 設備尺寸: 1200X1200X2000

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